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book/拉曼/Raman Scattering from Electronic Excitations in n-Type Silicon Carbide.md
2024-11-14 02:45:14 +08:00

518 B
Raw Blame History

Raman Scattering from Electronic Excitations in n-Type Silicon Carbide

这篇文章主要研究了两片 6HN 掺杂浓度分别为 4E18 和 6E19。此外还顺便研究了一下 15R。

6H 有三个自旋谷分裂导致的峰,分别在 13.0 60.3 62.6 meV它们分别对应于 h 位和两个 k 位,并且都是 1sA1到 1sE的跃迁。 TODO这里的 1s 是指什么? 由此可以推测,导带底应该在 ML 线上。

对于 LOPCL+ 严重地左右不对称L- 很小并且很宽。