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2024-09-23 15:51:36 +08:00
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--- a/拉曼/Determination
+++ b/拉曼/Determination
@@ -0,0 +1,8 @@
+# Determination of the transport properties in 4H-SiC wafers by Raman scattering measurement
+
+## Introduction
+
+通常测试外延层电学性质的方法是 Hall 效应或 C-V 曲线，但是这都需要接触样品，并且只能测量较大范围内的平均性质。
+
+使用拉曼测试可以测试较小范围内的情况，并且不需要预先处理。
+
--- a/拉曼/Determination
+++ b/拉曼/Determination
--- a/拉曼/碳化硅载流子浓度的拉曼光谱表征研究.pdf
+++ b/拉曼/碳化硅载流子浓度的拉曼光谱表征研究.pdf