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关于片子：
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* 有五个片子可以被切为碎片。
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* 这五个片子的 C/Si 比为：0.7 1.2 1.6 2.4 2.0
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* 这五个片子的 Al 浓度分别为：0.1 3.8 5.1 6.4 10 单位是 E18cm-3。
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* 这五个片子编号的末尾分别为：532 631 230 126 206
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* 这五个片子的编号的开头分别为：4N46-{JW,FM,GE,EA,UX}
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* 这五个片子的外延层厚度分别为：1um*5 2um
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* 此外还有两个片子，603 为衬底，重掺n型；911为几乎没有掺杂（略微有一些n）的外延层。
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* 250908: 正入射，各外延层及衬底的情况。欠焦 5 微米（衬底不欠焦）。光谱范围 170-1100。采集时间 5 累计次数 12 共焦针孔 50 光栅 1800。
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* 250909：
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* 1: 测试不同的共焦针孔和不同的离焦距离。
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* 测试共焦针孔大小：50 100 200
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* 测试离焦距离：0 2 5
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* 同一个点，每次测试三次。
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* 仅测试 zyyz，仅测试LOPC附近。
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* 积分时间不固定，次数x时间总共60s。
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* 在选定最好的共焦针孔和离焦距离后，在更细的尺度上进行调整。最终确定精度：离焦距离 1 针孔大小 10
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* 继续测试：离焦 0，针孔 80 100 120
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* 表面敏感：主要通过调节聚焦针孔。离焦也有一些用，但用处不如调节聚焦针孔来得明显。针孔调整到50左右可能最好，离焦 5 可能最好。
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* 高度、积分时间、积分次数：积分时间需要恰当，使得最高的峰不饱和，同时低处的峰足够高（CCD有限的分辨率可以被忽略）。要分析的目标峰，至少要1000左右比较合适。如果线抖动得比较厉害，说明积分次数（平均次数）不够，需要增加一些。
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* 使用206正面，zyyz。
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* 1: 共焦针孔 50 欠焦 0 采集时间 10 累计次数 3
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* 2: 共焦针孔 100 欠焦 0 采集时间 3 累计次数 10
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* 3: 共焦针孔 200 欠焦 0 采集时间 1 累计次数 30
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* 4: 共焦针孔 50 欠焦 2 采集时间 10 累计次数 3
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* 5: 共焦针孔 100 欠焦 2 采集时间 3 累计次数 10
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* 6: 共焦针孔 200 欠焦 2 采集时间 1 累计次数 30
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* 7: 共焦针孔 50 欠焦 5 采集时间 10 累计次数 3
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* 8: 共焦针孔 100 欠焦 5 采集时间 3 累计次数 10
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* 9: 共焦针孔 200 欠焦 5 采集时间 1 累计次数 30
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* 10: 共焦针孔 80 欠焦 0 采集时间 10 累计次数 3
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* 11: 共焦针孔 120 欠焦 0 采集时间 10 累计次数 3
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* 12: 共焦针孔 70 欠焦 0 采集时间 10 累计次数 3
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* 13: 共焦针孔 50 欠焦 5 采集时间 12 累计次数 10
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* 2: 测试各个片子的正入射结果。采集时间 30 累计次数 4 共焦针孔 50 欠焦 5。
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* 测试顺序为：
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* 第一轮：Si 片 532衬底 532 631 230 126 206 Si 片
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* 第二轮与第一轮相反。
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* 标号为：1 Si片 2 532背面 3 532 4 631 5 230 6 126 7 206
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* 250910:
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* 1: 使用 Si 片，测试结果的可复现性。每次测试使用五个点。
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* 2: 使用 Si 片，重复测试同一个点 20 次，计算出峰高等数据的标准差，用作之后的工作中参考。
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* 3: 测试外延片和衬底。离焦 0 针孔 100 积分时间 5 积分次数 10 范围 170-650，1 是衬底，其余依次是 532 631 230 126 206。
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* 第一次测试正常完成，全程不移动光谱，但光谱仍然出现偏移。因此仍然需要以某个峰为基准，进行测量。
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* 第二次测试一半时软件崩溃，导致光谱发生移动。此后测试时，需要禁止软件启动时初始化，并且在设定好参数后，立即重启软件（使得软件崩溃后再打开，不需要移动光谱）。
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* 250923: 对衬底结果的一些补充。离焦 0 针孔 100 积分时间 5 积分次数 10 范围 170-650 580-1000 测试11个点。
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* raw:
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* 1: 正入射 zxxz 前半。
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* 2: 正入射 zxxz 后半。
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* 3: 侧入射 yxxy 前半。
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* 4: 侧入射 yxxy 后半。
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离焦 0 针孔 100 积分时间 5 积分次数 10 范围 170-650 550-1000 各测试11个点。
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* 2: 衬底正入射zxxz，略微垫起一些，使得E1减小。
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* 3: 测试外延层正入射数据。离焦 0 针孔 100 积分时间 5 积分次数 10 范围 170-1000 测试十个点，手动移动光谱并手动对齐。
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