From 2a456eddce667a3a6d1c920219ef0c124c411e0f Mon Sep 17 00:00:00 2001 From: chn Date: Sat, 7 Jun 2025 14:19:05 +0800 Subject: [PATCH] --- 第二个论文/新分类/README.typ | 24 +++++++++++++++++++ ...ing of Ion-Implanted 4H–SiC Using Confocal Raman Spectroscopy.pdf | 0 2 files changed, 24 insertions(+) rename 第二个论文/{2-本征峰受到掺杂的影响(LOPC) => 新分类/已分类}/Depth Profiling of Ion-Implanted 4H–SiC Using Confocal Raman Spectroscopy.pdf (100%) diff --git a/第二个论文/新分类/README.typ b/第二个论文/新分类/README.typ index 48d4e2e..3676846 100644 --- a/第二个论文/新分类/README.typ +++ b/第二个论文/新分类/README.typ @@ -50,3 +50,27 @@ - 29-35: 对最复杂的介电函数的研究,以及使用它来拟合一些红外结果。 - 37-38: 不同载流子浓度下的 LO 阻尼不同(在低掺杂浓度下,近似线性增加),可以认为是 LO 与自由载流子和离子杂质耦合得到的。 += Depth Profiling of Ion-Implanted 4H-SiC Using Confocal Raman Spectroscopy + +这篇文章的样品是衬底、大约几微米厚的外延层(n型)、大约几百纳米厚的离子注入层(p型)。 +它使用拉曼来测试这些层的厚度。 + +在这篇文章中,blue shift 指峰向左移动。 + +这篇文章发现,不同剂量的离子注入会导致衬底的 LOPC 移动。它解释为光子两次通过离子注入层,受到了注入层的影响而导致的。 + +== 基础知识(无引用) + +- 拉曼在横向的空间分辨率主要取决于斑点大小,进一步取决于激光波长和物镜的数值孔径(NA)。共聚焦针孔则影响纵向分辨率。 + +== 引用 + +- 3-11: 测试 SiC 电学性质的几个方法,包括霍尔效应、SIMS 等,还有很多别的方法。它们都是有损或需要准备样品的。 + 这些内容在 introduction 的第一段中有详细介绍。 +- 12: 拉曼的优点,包括通过共聚焦来提高空间分辨率。 +- 2,13-17: 其它几个通过拉曼来测深度分布的文章。 +- 12,19: 其它影响拉曼分辨率的因素(折射率、吸收率,等)。 +- 26-30: 几个其它的,掺杂影响 LOPC 频率的文章。 + + + diff --git a/第二个论文/2-本征峰受到掺杂的影响(LOPC)/Depth Profiling of Ion-Implanted 4H–SiC Using Confocal Raman Spectroscopy.pdf b/第二个论文/新分类/已分类/Depth Profiling of Ion-Implanted 4H–SiC Using Confocal Raman Spectroscopy.pdf similarity index 100% rename from 第二个论文/2-本征峰受到掺杂的影响(LOPC)/Depth Profiling of Ion-Implanted 4H–SiC Using Confocal Raman Spectroscopy.pdf rename to 第二个论文/新分类/已分类/Depth Profiling of Ion-Implanted 4H–SiC Using Confocal Raman Spectroscopy.pdf