book/SiC/4H-SiC厚膜外延关键技术研究和器件验证.md

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2024-05-19 18:41:34 +08:00
# 4H-SiC厚膜外延关键技术研究和器件验证
## 第四章 p 型 SiC 外延生长技术
这里提到一个理论,掺入 Al 原子后,晶格发生畸变。
为了释放这个应力,产生了位错。
这里是否可以与位错的化学势与完美晶体中插入 Al 的化学势来解释?
这个理论来自论文 Observation of stacking faults formed during homoepitaxial growth of p-type 4H-SiC